Trójwymiarowy obraz obiektów o rozmiarach nanometrowych w mikroskopie sił atomowych
Numer:
818
Pokaz edukacyjny mikroskopu sił atomowych (ang. atomic force microscope, AFM). Mikroskop zapewnia sporą wydajność w ramach podstawowych badań małych próbek ze zdolnością rozdzielczą rzędu nanometrów. Dane z AFM zawierają ilościowe informacje o powierzchni w postaci trójwymiarowego obrazu. Serii pomiarowe będą połączone z omówieniem charakterystyk mikroskopu i własności badanych próbek.
Język:
Typ szkoły i dziedzina:
Forma:
Termin:
poniedziałek, 22 Września, 2025 - 10:00 do 11:00
Czas trwania:
do półtorej godziny
Opis skrócony:
Pokaz edukacyjny mikroskopu sił atomowych (ang. atomic force microscope, AFM). Mikroskop zapewnia sporą wydajność w ramach podstawowych badań małych próbek ze zdolnością rozdzielczą rzędu nanometrów.
Organizator:
Organizator:
Wydział Matematyczno-Przyrodniczy. Szkoła Nauk Ścisłych
dr hab.
Iaroslav
Shopa
Miejsce spotkania:
ul. Wóycickiego 1/3
01-938 Warszawa
Kampus Wóycickiego, Budynek nr 24
Stacjonarne
Ocena:
